CDIMA｜易诚高科OLED人工智能校准全栈解决方案获两院院士认可

10月21日，“第四届国际显示产业计量测试高峰论坛暨2019全国显示产业计量测试联盟年会”在北京召开。

大会发布了由中国计量测试学会显示产业计量测试联盟和易诚高科共同推出的《手机及显示屏测试评价报告》，易诚高科也在会上发布并展示了与中国计量科学研究院联合打造的“OLED Mura检测及Demura人工智能校准全栈解决方案”并获得两院院士一致认可。

此次大会以“显乎其微，示乎其大”为主题，邀请到了中国计量测试学会理事长蒲长城、两院院士许祖彦院士、谭久彬院士、李天初院士、中国计量科学研究院副院长滕俊恒、苏州市计量测试院院长张俊峰、厦门市计量检定测试院院长蒋淑恋、华东电子测量仪器研究所光电计量校准中心主任王恒飞等领导和专家出席。

来自信通院、全国平板显示标委会等有关领导，东南大学、厦门大学、哈尔滨工业大学、北京理工大学等高校学者，华为、联想、京东方、小米、索尼、维信诺、易诚高科、宸鸿科技等企业单位共计200余名业内专家学者，围绕企业创新与转型、产业融合以及中国显示产业全球化等主要议题，探讨显示产业的前瞻技术和发展趋势。

值得一提的是，本次会上中国计量测试学会显示产业计量测试联盟发布了与易诚高科共同评测的《手机及显示屏测试评价报告》。报告围绕测评背景、测评产品、显示屏蓝光辐射水平测评、电子竞技显示屏关键参数测评、手机显示屏关键参数测评五个方面，揭示并预测了未来显示产业的发展趋势，旨在为行业建立新标准以加快产业转型升级，推动显示计量测试能力满足各行业领域的需求。

易诚高科作为特约参展嘉宾，联手中国计量科学研究院发布并展示了“OLED Mura检测及Demura人工智能校准全栈解决方案”，这也是Mura检测与人工智能结合的首次亮相，吸引了现场众多同行交流互动，并获得了两院院士许祖彦院士、谭久彬院士、李天初院士的一致认可。

许祖彦院士参观易诚高科展位

李天初院士参观易诚高科展位

易诚高科“OLED Mura检测及Demura人工智能校准全栈解决方案”，意在为OLED Mura检测和Demura提供原创的技术创新与场景落地的可能，为中国OLED显示产业赋能，中国企业作为OLED产业的参与者正在打破国外厂商在该领域的垄断地位。

在峰会的压轴环节，易诚高科与Govion、云英谷、天马、吉迪思、润正5家国内平板显示头部企业展开了近1个半小时的“Mura检测和Demura”圆桌研讨。会议中易诚高科CTO王道宁表示，Mura分级推广、Mura评测标准，对于中国OLED崛起具有重要意义。Mura和DeMura是行业内的重大课题，行业应打通IC厂、手机终端厂、屏厂、相机设备厂等设备厂商，各级共同发力才能提高中国显示产业质量，提升国际话语权。